Каталог
  Системы телеинспекции   Газоанализаторы   Испытательное оборудование   Контрольно-измерительное оборудование   Электроизмерительное оборудование   Электроизмерительная лаборатория   Амплитудные усилители   Анализаторы кабельных сетей (СКС)   Анализаторы качества электроэнергии   Анализаторы спектра   Анализаторы цепей   Виртуальные приборы   Вольтметры   Генераторы   Измерители RLC   Измерители коэффициента трансформации   Измерители мощности   Измерители напряженности электромагнитного поля   Измерители параметров безопасности электрооборудования   Измерители параметров полупроводниковых приборов   Измерители параметров электрических сетей   Измерители петли короткого замыкания   Измерители плотности потока энергии электромагнитного поля   Измерители сопротивления   Измерители уровня спутникового сигнала   Измерители электромагнитного излучения   Измерители электромагнитного поля промышленной частоты   Измерительные антенны   Источники питания   Калибраторы и поверочное оборудование   Логические анализаторы   Мультиметры/тестеры ручные   Осциллографы   Прецизионные измерители   Прецизионные измерители Keithley   Измерители малых величин Keithley   Источники-измерители программируемые Keithley   Мультиметры прецизионные Keithley   Радиомонтажный инструмент   Регистраторы и системы сбора данных   Стабилизаторы напряжения   Тестеры для систем мобильной радиосвязи   Токоизмерительные клещи   Трансформаторы   Устройства прогрузки автоматических выключателей и РЗ   Частотомеры и стандарты частоты   Электронные нагрузки   Судовые хомуты   Промышленная мебель   Геодезическое оборудование   Лабораторное оборудование   Весовое оборудование   Оптические аналитические приборы   Оборудование для лабораторий специальной оценки условий труда   Приборы неразрушающего контроля   Диагностическое автомобильное оборудование   Комплексные решения для лабораторий по проведению энергетических обследований   Оборудование для добывающей промышленности   Медицинское оборудование
Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS Keithley
Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS Keithley
Цена: по запросу



Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS

Система Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 8 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:

  • Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 200 В 
  • Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 10 кГц до 10 МГц

Основные особенности: 

  • Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения
  • Шасси поддерживает до 8 измерительных модулей высокой мощности одновременно 
  • Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности 
  • Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением +/-60 V и в диапазоне частот от 10 KHz до 10 MHz, а также в квазистатическом режиме (опционально) 
  • Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 V 
  • Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE7.0) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования 
  • Библиотека до 400 стандартных тестов

Расширенная спецификация

Рабочая станция на базе Windows XP 

  • Процессор Pentium Core 2 Duo 6400 
  • Память - 2 Гб 
  • Жесткий диск -500 Гб SATA HDD 
  • Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор 
  • Порты Dual Gigabit Ethernet, USB 2.0, RS-232, Parallel Printer Port

Пользовательский интерфейс (Keithley Interactive Test Environment - KITE) 

Что позволяет данный интерфейс?

  • Даже неопытный пользователь может сразу без помощи программиста приступить к измерениям, которые займут немного времени 
  • Гибкий пользовательский интерфейс позволяет менять параметры на лету и производить тесты интерактивно простым кликом мышки 

  • KITE поддерживает три различных пакета тестовых программных приложений, расширяющих возможности системы 4200- SCS в области импульсного тестирования полупроводников: 
         * 4200-PIV-A для тестирования зарядовых ловушек и изотермических тестов современных КМОП приборов
         * 4200-PIV-Q для высокомощного импульсного тестирования полупроводников A3B5 и др. высокочастотных МОП –приборов 
         * 4200-FLASH для тестирования FLASH–памяти и встроенных запоминающих приборов.
  • KITE производит снятие C-V и I-V характеристик и снабжен широким набором образцов программ, библиотек тестов и примеров встроенной экстракции параметров приборов из снятых характеристик
  • Экспорт данных в рабочий лист EXCEL или ASCII формат и графиков в файлы .bmp, .jpg, или .tif. Встроенные функции построения формул, графиков и расчетов упрощают анализ сложных систем

  • Образцы тестов и проектов для различных применений включены в стартовую комплектацию
  • Поставляемые производителем драйверы для измерителей емкости, коммутирующих матриц, генераторов импульсов и различных зондовых установок упрощают построение сложной измерительной системы на базе 4200-SCS 
  • Опциональные драйверы для самых последних программных пакетов моделирования позволяет системе 4200-SCS удовлетворять требованиям современной тестовой лаборатории.

Измерительные модули

Мощные модули 4210-SMU:

  • Девять токовых диапазонов для генерации и измерения токов в диапазонах от 100 нА до 1 А
    Разрешение: от 100 фА до 1 мкА для измерения и от 5 пА до 50 мкА для генерации
  • Четыре вольтовых диапазона: от 200 mV до 200 V источников и измерителей
    Разрешение: от 1 мкВ до 200 мкВ измерения и от 5 мкВ до 5 мВ генерации
    Максимальный выходной сигнал до 21 В /1 А и 210 В /10 мА
  • Опциональный токовый предусилитель (4200-PA) расширяет токовые диапазоны дополнительно:
    Диапазоны : 10na, 1na, 100pA, 10pA и 1pA

  • На одно шасси 4200- SCS возможно установить до 8 мощных модулей 4210-SMU

Модули средней мощности 4200-SMU:

  • 12 токовых диапазонов для генерации и измерения :
    от 100 pА (полная шкала) до 100mA (полная шкала).
    Разрешение: от 100 fA до 100 nA – при измерении и от 5пA до 50 мкА для генерации
  • 4 вольтовых диапазона для генерации и измерения
    от 200 mV до 200 V 
    Разрешение: от 1 uV до 200uV при измерении и от 5 uV до 5 mV для генерации
    Максимальное выходное напряжение 21В при токе 100 мА, 210В при токе 10 мА.
  • Опциональный токовый предусилитель, добавляющий токовые диапазоны: 10nА, 1nА, 100pA, 10pA и 1pA
  • На одно шасси 4200- SCS возможна инсталляция до 8 измерительных модулей средней мощности 4200-SMU.

 

Интегрированный модуль заземления:

  • Выходной разъем: двойной триаксиальный, тройной клемник
  • Максимальный ток 2,6 А при двойном триаксиальном подключении или 4,4 А через тройной клемник
  • Нагрузочная емкость – не ограничена
  • Сопротивление кабеля: силового – менее 1 Ом
  • Сенсорного - менее 10 Ом.

Измерение CV (вольт-фарадных) характеристик

С-V измерения в системе 4200- SCS осуществляются с помощью встраиваемой опции 4210-CVU.
Эта опция может быть установлена в систему которая уже эксплуатируется или заказана при первоначальной комплектации системы.

Встроенный C-V модуль обеспечивает C-V измерения с параметрами: 

  • частотный диапазон от 10 кГц до 10 МГц 
  • регулируемое постоянное смещение в диапазоне ±30 В с разрешением 1 мВ 
  • набор для измерений мощных приборов (400В/300 мА)

 

Высокоскоростная цифровая архитектура позволяет строить графики С-V в режиме реального времени. Опция 4210-CVU– это не просто сочетание «железа» и софта. Это опыт десятилетий лидера рынка в области C-V метрии.

4210-CVU содержит широкий набор образцов программ, библиотек тестов и примеров экстракции параметров: 

  • Стандартная C-V метрия: для обычных МОП-транзитовов, диодов и конденсаторов
  • MOScap: Измерение C-V на МОП-конденсаторах
  • MOSFET: Измерение C-V на МОП-транзисторах
  • Время жизни: Определение скорости генерации и время жизни носителей, (график Зебрста) для МОП-конденсаторов 
  • Мобильные ионы: Определение подвижного заряда с помощью измерений на разных темепературах
  • Емкость: Снятие характеристик как C-V так и C-f (от частоты) на МИМ (металл –изолятор –металл) конденсаторах
  • PNjunction: Измерение емкости p n перехода или диода Шоттки как функции приложенного постоянного смещения
  • Photo Voltaic cell: Измерение как прямой так и обратной характеристики ячеек солнечных батарей cell
  • BJT: Измерение емкости (при нулевом смещении) между выводами биполярного транзистора (База-эммитер, База-коллектор, Эммитер-коллектор)
  • I-V/C-V с переподключением: Демонстрация с использованием измерительных модулей SMUs, опции CVU, и переключательных матриц and 707A/708A в одном проекте 
  • Емкость межсоединений: Измерение C-V малой межконтактной емкости на подложке
  • Нанопроволоки: Проведение C-V измерений на двухвыводном приборе на базе нанопроволоки
  • Flash: Проведение C-V измерений на типичном приборе памяти на базе плавающего затвора

Импульсные тестирования

Инструментарии должны включать возможность «апгрейда» с внутренним тестированием импульсных ВАХ

Аппаратная часть 

  • Двухканальный импульсный генератор 4205-PG2

частотный диапазон: 1 Гц…50 МГц
программируемая длительность импульса: от 10нс
амплитуда импульса: от 100мВ до 20В (50 Ом) и от 100 мВ до 40В (1 МОм)
возможность программирования параметров: длительность импульса, коэффициент заполнения, время нарастания, время спада, амплитуда, смещение 

4200-SCP2
полоса пропускания: 750МГц
максимальная частота дискретизации – 1,25 Гвыборок/сек на канал
вертикальное разрешение: 8 бит
глубина памяти: 1М на канал.

4200-SCP2HR
полоса пропускания: 250МГц
максимальная частота дискретизации – 200 Мвыборок/сек на канал
вертикальное разрешение: 16 бит
глубина памяти: 1М на канал

  • Все необходимые для подсоединения тестируемого устройства: кабели, соединители, тройники

Программное обеспечение

Специализированное программное обеспечение позволяет проводить импульсные тестирование с максимальной точностью.

Встроенная рабочая станция позволяет управлять измерительными модулями SMUs установленными в базовый блок рабочей станции через KITE Software .Данное программное обеспечение работает под управлением операционной системы Windows XP и позволяет в интерактивном режиме выполнять следующие действия: 

  • конфигурирование измерительных модулей SMUs для тестирования ВАХ в интерактивном режиме при помощи пользовательского интерфейса Keithley Interactive Test Environment (KITE); 
  • конфигурирование в интерактивном режиме при помощи пользовательского интерфейса KITE и библиотеки утилит Keithley Configuration Utility (KCON) для управления внешними устройствами, такими как: коммутаторы, внешние измерительные модули (типа Keithley 236, 237), источники-измерители, установки зондового контроля, измерители емкости, импульсные генераторы, осциллографы;
  • конфигурирование в интерактивном режиме внутреннего импульсного генератора и импульсного измерителя; 
  • многозадачность операций позволяющая проводить анализ во время тестирования; 

  • интеграция специализированных алгоритмов тестовых инженеров посредством набора библиотек Keithley User Library Tool (KULT) в интерактивную систему KITE

Встроенная крупноформатная таблица в стиле Excel с широкими возможностями масштабного управления для анализа: 

  • экспорт в xls формат;
  • библиотека основных тестов ВАХ; 
  • библиотека тестов в области нанотехнологий 
  • библиотека внешних инструментальных команд 
  • встроенные тесты испытания на надежность 
  • фабрично установленные константы

«Оффлайн» версия KITE software может запускаться на внешнем персональном компьютере пользователя под управлением Microsoft XP и включает в себя все возможности KITE интерфейса (кроме управления системой), включая анализ данных и генерацию тестов, и не требует подключения самой системы 4200-SCS .

 Опция 4200-PIV-A представляет собой комплексное решение для проведения импульсных измерений. 4200-PIV-A включает в себя:

  • двухканальный импульсный генератор 4205-PG2 
  • двухканальный цифровой осциллограф 4200-SCP2 
  • программное обеспечение 
  • соединительные устройства с минимальными отражениями 4200 REMOTE Bias-Tee 

  • необходимый комплект кабелей и соединителей

Опция 4200-PIV-A предназначена для тестирования зарядовых ловушек и изотермических тестов современных КМОП приборов.

 

Опция 4200-PIV-Q представляет решение для проведения импульсных измерений мощных ВЧ транзисторов.
Опция 4200-PIV-Q включает в себя: 

  • двухканальный импульсный генератор 4205-PG2
  • двухканальный цифровой осциллограф 4200-SCP2HR

Опция 4200-PIV-Q предназначена для высокомощного импульсного тестирования полупроводников A3B5 и др. высокочастотных МОП –приборов

Опция 4200-FLASH предназначена для тестирования быстрого и легкого тестирования FLASH–памяти или небольших массивов используя четыре (с возможностью расширения до восьми) независимых, но синхронизированных многоуровневых импульсных каналов.

Она включает в себя программное обеспечение и соединительные устройства.

Информация о доступных опциях для заказа:

Базовый блок системы 4200:

  • 4200-SCS/C
  • 4200-SCS/C-NOSMU
  • 4200-SCS/F
  • 4200-SCS/F-NOSMU

Опции коммутации:

  • 4200-GP-RS-12
  • 4200-GP-RS-12/707A
  • 4200-GP-RS-24
  • 4200-GP-RS-36
  • 4200-GP-RS-48
  • 4200-GP-RS-60
  • 4200-GP-RS-72
  • 4200-LC-LS-12
  • 4200-LC-LS-12/707A
  • 4200-LC-LS-24
  • 4200-LC-LS-36
  • 4200-LC-LS-48
  • 4200-LC-LS-60
  • 4200-LC-LS-72
  • 4200-UL-LS-12
  • 4200-UL-LS-12/707A
  • 4200-UL-LS-24
  • 4200-UL-LS-36
  • 4200-UL-LS-48
  • 4200-UL-LS-60
  • 4200-UL-LS-72
  • 4200-UL-RS-12
  • 4200-UL-RS-18
  • 4200-UL-RS-24
  • 4200-UL-RS-30
  • 4200-UL-RS-6

Опции системы и аксессуары:

  • 4200-CAB-20UX
  • 4200-CAB-25UX
  • 4200-CAB-34UX
  • 4200-CART
  • 4200-CASE
  • 4200-CVU-PROBER-KIT
  • 4200-CVU-PWR
  • 4200-KEY-RM
  • 4200-MAG-BASE
  • 4200-MAN
  • 4200-MOUSE
  • 4200-MTRX-1
  • 4200-MTRX-2
  • 4200-MTRX-3
  • 4200-PRB-C
  • 4200-Q-STBL-KIT
  • 4200-RM
  • 4200-RPC-0.3
  • 4200-RPC-2
  • 4200-RPC-3
  • 4200-RPC-6
  • 4200-SCP2-ACC
  • 4200-TMB
  • 4200-TRX-0.3
  • 4200-TRX-1
  • 4200-TRX-2
  • 4200-TRX-3
  • 4200-VAC-BASE
  • 4210-MMPC-C
  • 4210-MMPC-S

Измерительные модули:

  • 4200-80
  • 4200-CVU
  • 4200-FLASH
  • 4200-FLASH-2CH
  • 4200-PA
  • 4200-PIV-A
  • 4200-PIV-Q
  • 4200-PIV-Q-PLUS
  • 4200-SCP2
  • 4200-SCP2HR
  • 4200-SMU
  • 4210-CVU
  • 4210-SMU
  • 4225-PMU
  • 4225-PPM
  • 4220-PGU 

Программное обеспечение

  • 4200ICCAP-6.0
  • 4200-KTEI-7.2
  • 4200-KTEI-UPNT
  • ACS-4200

Для правильного конфигурирования системы Вы можете написать нашим специалистам по электронной почте: После обработки Вашего заказа они обязательно свяжутся с Вами. Не забудьте указать Ваши контактные данные.

Новости

Отправить

Обращаем Ваше внимание на то, что информация размещенная на интернет-сайте носит ознакомительный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 ГК РФ.